IC芯片打包封装工序结束后,务必通过严格要求的检验,保证产品的质量芯片外观检测是不可缺少的中心环节,它可以直接危害到IC产品的质量和后期生产环节的顺利开展。
IC芯片外观检测有这三种具体方法:
1、它是一类传统式的人工检验具体方法,主要是依靠目测、人工检验、可靠性低、检验工作效率低、劳动强度大、缺陷检测等。它不可以满足大规模生产和制造
2、它是一类依托于激光测量技术应用的检验具体方法,硬件标准高、成本高、故障率高、维护保养困难重重;
3、该具体方法依托于机器视觉,因为检测系统硬件便于集成和实现,检验速度快,检验精度高,使用维护保养比较简单,在芯片外观检测领域越来越流行。
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