电子产品外观缺陷检测设备

现阶段电子产品外观表面缺陷人力检验工作压力大，效率低并且漏检率高，现实需要产品缺陷的自动化检测;实际上检查中，塑料制品表面在光照强度下会有反光，很大程度影响后续工作;缺点微小并且与制品颜色对比不显眼，选用直接的阈值难以分割;对于这一情况将机器视觉技术与虚拟仪器紧密结合，依据产品缺陷特点，合理选择光照方案抑制反光，运用锐化滤波获取了缺点部位特点清晰的图像，并对边缘模糊缺点有效分割;识别结果表明，图像处理算法稳定，对绝大部分缺点具有良好的检验效果。

各种电子产品，成为了经济发展，国家信息安全的命脉，深深影响着现代人类的生活了.在半导体芯片封装加工过程中，不可避免地在芯片表面形成各种缺点，直接影响芯片的运作功能及使用寿命。传统式人力目视检测法早已无法适应半导体芯片封装制造的高速，高精度的检验需求量.运用机器视觉技术对芯片表面缺陷进行检验，有着零接触无损伤，检测精度高，速度快，稳定性高等特点.虽然目前基于机器视觉的芯片缺陷检测技术在芯片打印字符，引脚外观尺寸位置等方面的研究已取得很好的进展，但对于芯片表面的外观缺陷检测与分类研究尚处于起步。

深圳威斯特姆智能技术有限公司，是一家专业致力于图像视觉检测的集研发、生产、销售于一体的国家级高新科技企业，秉承十八年图像视觉检测经验，拥有图像视觉行业资深的研发及管理团队，十八年的发展历程，积累了丰富的实践经验，可为行业不同产品“量身定制”自动化检测解决方案，主要产品为CCD玻璃盘筛选机、CCD分度盘筛选机、CCD360度旋转筛选机，全自动接触式检测机，激光检测平面度等。